Analisi di superficie XPS, ARXPS, SAXPS. E' possibile analizzare tutti i campioni (metalli, ceramici, polimeri, applicazioni anche in campo ambientale e dei beni culturali). Sono possibili profili di composizione non distruttivi mediante ARXPS senza muovere il campione. Risoluzione laterale fino a 15 µm.

Microscopio elettronico a transmissione. Risoluzione immagine reticolo 0.14 nm, immagine di punto 0.194 nm.

Microscopio elettronico a scansione (ESEM) a pressione variabile (UV, pressione bassa, fino a pressione atmosferica). Risoluzione laterale sino a 4 nm. Analisi chimica elementare con rilevatore EDX.

Microscopia a forza atomica, risoluzione atomica in soluzioni ed in aria.

Diffratometro a media e alta risoluzione per film sottili.
Scansioni monodimensionali per la determinazione dello spessore, dei parametri reticolari del film, del grado di rilassamento. Mappe del reticolo reciproco per la determinazione della composizione e del grado di deformazione.

Campo Vicino SNOM, Campo Lontano Confocale, Risoluzione Temporale sino a 2ps
Risoluzione Spettrale UV-VIS-NIR, Risoluzione Spaziale sino a 100nm
Alta Eccitazione Ottica UV-VIS-NIR
Campioni di nano fibre organiche eccitate con luce UV

Crescita di strati sottili in atmosfera controllata (% ossigeno < 1ppm)
Crescita di ossidi con alto Gap, metallizzazione, controllo della crescita al nm