Dipartimento di Ingegneria elettrica ed elettronica
Giovanna Mura è professoressa Associata del Gruppo di Elettronica presso il Dipartimento di Ingegneria Elettrica ed Elettronica dell’ Università degli Studi Cagliari dal novembre 2023. E' stata ricercatrice a tempo determinato dal novembre 2012 all'ottobre 2023.
- Dall’anno accademico 2018-19 è docente del corso di “Affidabilità dei componenti elettronici“ (5 CFU) della Magistrale di Ing. Elettronica (percorso comune) dell’Università degli Studi di Cagliari.
- Dall’a.a 2023-24 è docente del corso di "Optoelectronics, Diagnostics and Aerospace Applications" (7 CFU) (percorso: Electronic Technologies For Emerging Applications) della Magistrale di Ing. Elettronica dell’Università degli Studi di Cagliari.
- Dall’a.a 2016-17 è docente del corso “Diagnostics of Electron Devices ” (corso a scelta) per il Dottorato in Ing. dell’ Informazione dell’Università degli Studi di Padova.
- Dall’a.a 2021-22 e fino all' aa 2022- 23 è stata docente del corso di "Optoelectronics, Diagnostics and Aerospace Applications" (per 5 dei 7 CFU) (percorso: Electronic Technologies For Emerging Applications) della Magistrale di Ing. Elettronica dell’Università degli Studi di Cagliari.
- Dall’a.a 2019-20 e fino all’anno accademico 2020-21 è stata docente del Modulo di “Diagnostics” (2 CFU) in Optoelectronics, Diagnostics and Aerospace Applications (7 CFU) (percorso: Electronic Technologies For Emerging Applications) della Magistrale di Ing. Elettronica dell’Università degli Studi di Cagliari
- Dall’a.a 2013-14 e fino all’anno accademico 2017-18 è stata docente del modulo di “Affidabilità dei dispositivi” (5 CFU) del corso integrato: Optoelettronica e Affidabilità dei dispositivi per la Magistrale di Ing. Elettronica
- Dall’a.a 2012-13 e fino all’anno accademico 2017-18 è stata docente del “Laboratorio di Diagnostica dei dispositivi elettronici“(2 CFU), esame a scelta per la Laurea Triennale e Magistrale in Ing. Elettronica, per i corsi di Dottorato di Ing. Elettronica
- Per l'anno accademico 2020/21 è Direttore del Master in Space Optics and Remote Sensing
La sua attività è attualmente incentrata su:
- Contraffazione elettronica
- Affidabilità dell’elettronica in harsh environments (automotive, space…)
- Optoelettronica
- Tecnologie innovative nel campo della elettronica, fotonica e sensoristica
- Metodologia per la Failure Analysis di dispositivi elettronici
- Microscopia elettronica (in scansione, trasmissione, ionica) applicata all’elettronica e alle scienze dei materiali.
Presso l’ Università degli Studi di Cagliari ha conseguito il titolo di:
- Dottore in Ingegneria Elettronica il 25 ottobre 2000 con tesi riguardante: Fenomeni di soft breakdown e hard breakdown nel biossido ultra-sottile di un MOS (relatori prof. M. Vanzi, prof. J. Suñe, prof. E. Miranda), tesi svolta presso il Department Enginyeria Electronica, Universitat Autonoma de Barcelona mediante un progetto Erasmus
- Dottore di Ricerca in Ingegneria Elettronica ed Informatica, in data 11 marzo 2004 con la tesi dal titolo “Metodi diagnostici per la microelettronica. Problemi, soluzioni e applicazioni ai dispositivi avanzati”, relatore Prof. M. Vanzi (DIEE-Università degli Studi di Cagliari);
ll 4 Aprile 2017 ha conseguito l’abilitazione scientifica nazionale (ASN 2016) per l’accesso alla seconda fascia, settore concorsuale 09/E3 Elettronica.
Negli anni 2019- 2022 ha fatto parte del collegio dei docenti del DRIEI (Dottorato di Ricerca in Ingegneria Elettronica e Informatica Scuola di Dottorato in Ingegneria dell’Informazione) di UNICA.
Talks su invito:
- (2020) – (Cancelled) Summer School of Information Engineering – “Silvano Pupolin”- invited speaker Title: “Towards zero-failure electronic systems: the importance of diagnostics”.
- (2020) Aldo Armigliato SEM School in Materials Science- invited speaker Title: “SEM Applications in Device Diagnostics”
- (2019) IPFA 2019 exchange paper (not speaker)
- (2019) Aldo Armigliato SEM School in Materials Science- invited speaker Title: “Scanning Electron Microscopy in Failure Analysis”
- (2018) IPFA 2018- invited speaker Title: “From Automotive to Space qualification: Overlaps, gaps and possible convergence”
- (2018) ISTFA 2018 exchange paper (not speaker) Title: Single event transient acquisition and mapping for space device characterization”
- (2018) SIE 2018 PhD school- invited speaker Title: “Diagnostics of electron devices: a real shortcut to reliability improvements”
- (2018) MRS 2018- EP04 – invited speaker Title: “Diagnostics of electron devices: Fundamentals and Logics”
- (2017) School of Scanning Electron Microscopy in Materials Science – invited speaker Title: “SEM Applications in Device Diagnostics”
- (2017) ESREF 2017 invited paper (not speaker) Title: “Qualification Extension of Automotive Smart Power and Digital ICs to Harsh Aerospace Mission Profiles: Gaps and Opportunities”
- (2016) IPFA 2016 invited speaker Title: “Logics of Failure Analysis: 20 years of Rules of the Rue Morgue”
- (2016) PhD Summer School “Italo Gorini” – invited speaker Title: “Life Time measurements in Electron Devices and Systems”
- (2015) School of Scanning Electron Microscopy on nanostructured materials and innovative applications- invited speaker Title: “Photometric Stereo at the SEM. Application to microelectronics”
Esperienze all’estero:
- (2019) ERASMUS+ Teaching and Training presso Belarusian State University di Minsk (10 giorni)
- (2004) Progetto giovani ricercatori presso Swiss Federal Institute of Technology (ETH) di Zurigo (4 mesi)
- (2000) ERASMUS presso Department Enginyeria Electronica, Universitat Autonoma de Barcelona (5 mesi)
Collaborazioni di ricerca:
- CNES Toulose –France
- ETHz Zurich– Switzerland
- DEI – University of Padova – Italy
- IMM – CNR Bologna – Italy
- University of Modena and Reggio Emilia – Italy
- Autonomous University of Barcelona – Spain
- Max-Born-Institut – Berlin – Germany
- ST Microelectronics – Agrate- Italy
- Intraspect Technologies– Toulose- France
- Huawei Technologies – Shenzen– China
- Datalogic SpA– Bologna – Italy
- IMS- Bordeaux- France
- Electrical and Electronic Information Engineering- University of Toyohashi- Japan
- Belarusian State University- Minsk- Belarus
Attività lavorative precedenti:
- Dicembre 2010 – Ottobre 2012 Ricercatore senior presso il Laboratorio di Telemicroscopia Industriale (Distretto ICT) – Crs4
- Ottobre 2007- Dicembre 2009 Ricercatore senior presso il Laboratorio di Telemicroscopia Industriale (Distretto ICT) – Sardegna Ricerche
- Febbraio 2004 – Febbraio 2007 Assegno di ricerca sulla tematica: ”Microscopia Elettronica per la Diagnostica della Microelettronica”
- 02 Febbraio 2001- 31 Gennaio 2002 Sw jr developer per lo sviluppo di applicazioni Object Oriented per sistemi telematici distribuiti presso FST (Fabbrica servizi telematici) – UTA (CA)
Contratti privati per attività di ricerca presso il DIEE:
- Caratterizzazioni ed analisi di dispositivi MMIC in GaAs (2011)
- Sviluppo di tecniche di deprocessing selettivo su dispositivi elettronici avanzati (2007)
- Sviluppo di tecniche di microscopia elettronica in trasmissione in campo biologico e microelettronico (2007)
- Modelli affidabilistici avanzati per i dispositivi elettronici (2006)
Progetti di ricerca
Componente dell’unità di ricerca nel seguente progetto europeo:
NETfficient (coordinator Prof. A. Damiano – DIEE-University of Cagliari) http://netfficient-project.eu
Componente dell’unità di ricerca di Cagliari nei seguenti progetti nazionali:
- Cagliari2020;
- PRIN 2009: “Caratterizzazione tecnologica, analisi di guasto e modellistica di emettitori ottici avanzati in GaN”;
- PRIN 2005: “Caratterizzazione chimico-fisica e diagnostica di emettitori in GaN”;
- PRIN 2002: “Caratterizzazione Tecnologica e Failure Analysis di LED in luce visibile e UV”;
Coordinatore dei “Progetti di ricerca biennale nell’Università di Cagliari”
- ARGOSAT: "Microsatellite cluster for the observation of optical transients in Astronomy" (annualità 2018);
- DACE: "Detection and avoidance of counterfeit electronics" (annualità 2021);
Responsabile scientifico per il progetto regionale POR FESR 2014-2020 - Asse 1, Azione 1.1.3 - REMPRO: "Redundant MicroProcessor" (capofila: IES S.r.l.)
Responsabile scientifico per il progetto regionale Programma Regionale di Sviluppo 2020-2024- strategia 2- settore ICT- NoDeCI: "Non Destructive Counterfeit Identification" (capofila: Nurjana Technologies S.r.l.)
Componente dell’unità di ricerca nei seguenti progetti regionali:
- RADARDRONE: Cluster Top Down di Sardegna Ricerche 2017 (capofila: INAF- Cagliari);
- SEMI: Cluster Top Down di Sardegna Ricerche 2017 (capofila: DIEE- UNICA);
- SARDASENSORS_Evolutive: ulteriore finanziamento per il Cluster Top Down di Sardegna Ricerche 2015 (capofila: INAF- Cagliari);
- SVAME: INNOVA.RE 2014 idoneo ma NON finanziato;
- SARDASENSORS: Cluster Top Down di Sardegna Ricerche 2013 (capofila: INAF- Cagliari);
ultimo aggiornamento: Dicembre 2023