All'interno delle attività del corso di "Optoelectronics, Diagnostics and Space Application (ODA)" della LM di Ing. Elettronica è previsto il seminario "Failure Analysis Techniques for Fault Isolation" proposto dal Dr Tommaso Melis- ST Microelectronics - Grenoble. L' incontro si terrà il 16/12 durante la lezione di ODA. Per poter partecipare contattare la docente del corso giovanna.mura_at_unica.it