Esref 2016, il 27 ° Simposio Europeo sull’affidabilità dei dispositivi elettronici e la prevenzione dei guasti si è tenuto ad Halle (Saale, Germania) dal 19 al 22 settembre scorso. La conferenza era incentrata sui recenti sviluppi e gli scenari futuri rispetto a qualità, robustezza e affidabilità dei materiali e della componentistica di circuiti elettronici, sistemi integrati e dispositivi optoelettronici.


L’articolo di Roberta Pilia - presentato durante il 27th EUROPEAN SYMPOSIUM ON RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS - è stato insignito del premio “Best Paper Award” (LINK). La dottoressa cagliaritana assunta come Ingegnere elettronico dal prestigioso Centre National d’Etudes Spatiales (CNES) di Tolosa.
 
Cagliari, 7 novembre 2016
Ivo Cabiddu
 
Neolaureata cagliaritana in ingegneria elettronica vince il premio per il miglior articolo scientifico a ESREF 2016 - Halle, Germania - concernente il testing per la "valutazione affidabilistica dell’elettronica per applicazioni spaziali". Il lavoro della dottoressa Roberta Pilia (foto a sinistra) è stato svolto per il Dipartimento di Ingegneria Elettrica ed Elettronica di Cagliari al CNES di Tolosa, con il coordinamento dell’Ingegner Giovanna Mura, ricercatrice a tempo determinato del Dipartimento e docente del corso integrato di Affidabilità dei dispositivi elettronici e del Laboratorio di Diagnostica dei dispositivi elettronici.
 
METODOLOGIA INNOVATIVA. Questo studio scientifico, che è stato selezionato fra oltre 110 contributi accettati (dei 220 proposti) per la presentazione al più importante simposio europeo sull’affidabilità e diagnostica dell’elettronica, propone una "metodologia innovativa per l’identificazione e mappatura dei punti più sensibili alle radiazioni, attraverso un sistema di acquisizione basato sulla scansione di un laser sulla superficie di un dispositivo elettronico analogico". In pratica, rispetto ai metodi decisamente costosi utilizzati finora, fondamentalmente basati su irraggiamento da ioni pesanti, il setup di misura e caratterizzazione proposto "realizza un sistema facilmente impiegabile per analisi veloci e a basso costo in grado di dare un primo feedback e successivamente supportare, complementando i test effettuati mediante ioni pesanti fortemente accelerati da sincrotrone, le procedure di validazione dell’elettronica per ’harsh enviroments’, cioè per ambienti difficili ed estremi come quello spaziale". 
 
COLLABORAZIONE INTERNAZIONALE. Il lavoro, intitolato "Single Event Transient Acquisition And Mapping For Space Device Characterization", è frutto di una collaborazione scientifica fra l’Università di Cagliari - in particolare il RELAB, Laboratorio di Affidabilità e Diagnostica diretto dal professor Massimo Vanzi (vedi LINK al recente articolo sulle importanti attività del docente nel settore) - e i ricercatori dello spin-off del CNES Intraspect Technologies, in un’iniziativa di ricerca volta a investigare nuove tecniche a basso costo per la valutazione della sensibilità alle radiazioni dell’elettronica impiegata in missioni aerospaziali. Tra gli autori, oltre a Roberta Pilia, figurano Guillaume Bascuil, Fulvio Infante, Kevin Sancez e naturalmente Giovanna Mura (qui a lato).
 
RIBALTA MONDIALE E INCARICO IN FRANCIA. Già pubblicato sulla rivista Microelectronics Reliability (www.sciencedirect.com), in virtù di questo riconoscimento lo studio sarà presentato nel 2017 quale "Articolo su Invito" ad uno degli altri grandi congressi internazionali sui temi della affidabilità e analisi dei guasti in microelettronica: l’International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA17), in programma negli Stati Uniti (www.asminternational.org) il prossimo anno. Ancora sulla scia di questa fortunata collaborazione un altro ottimo risultato consiste nella conferma, con grande soddisfazione dei suoi professori, che la dottoressa Pilia è stata assunta come Ingegnere elettronico dal prestigioso Centre National d’Etudes Spatiales (CNES) di Tolosa.